1、主要用于直接觀察導電、不導電樣品的表面形貌及成分分析。
2、具有可觀察含水樣品的功能,并能在低真空以及更低真空度的條件下能觀察二次電子像,以滿足研究近似原始狀態(tài)下相關(guān)樣品的需求。