掃描電子顯微鏡(SEM)

功能:結(jié)構(gòu)分析
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儀器型號:FEI Quanta 250 FEG
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發(fā)布人:管理員
詳情 details

1、主要用于直接觀察導電、不導電樣品的表面形貌及成分分析。

2、具有可觀察含水樣品的功能,并能在低真空以及更低真空度的條件下能觀察二次電子像,以滿足研究近似原始狀態(tài)下相關(guān)樣品的需求。

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